Neuartiger schleppergetragener Sensorträger für die hochauflösende Messung von Pflanzenparametern

Read full text
Authors: Josef Stangl, Ludwig Hagn, Martin Mittermayer, Kurt‐Jürgen Hülsbergen
Cited by: 0

Abstract

Vorgestellt wird ein schleppergetragener Sensorträger, der zur Erfassung von Pflanzenparametern in hoher räumlicher Auflösung dient. Diese höhere Auflösung ist notwendig, um den Zustand des vegetativen Bestandes korrekt einschätzen und die heterogenen Bodeneigenschaften abbilden zu können. Im Gegensatz dazu arbeiten viele aktuelle Systeme mit meist nur zwei Sensoren nahe am Traktor montiert und haben dadurch zwangsläufig eine deutlich schlechtere räumliche Abdeckung und Datenqualität. In der Untersuchung auf einem Praxisschlag mit Winterweizen in Südbayern wurden zu drei Vegetationsstadien Spektralmessungen durchgeführt. Das Messraster deckte dabei den Schlag gleichmäßig ab. Die zehn Messköpfe wurden im Abstand von 2,5 m an einem Gestänge mit präziser Höhenführung angebracht und lieferten Messergebnisse im Abstand von 1,0 m. Verglichen wurden die Daten aller Messköpfe des Sensorträgers mit den Daten der Messköpfe, die nur in Schleppernähe aufzeichneten. Die Daten beider Vergleichsvarianten wurden mit dem gleichen System in einer Überfahrt zum jeweiligen EC- Stadium aufgenommen. Der Vergleich der Ergebnisse (vereinfacht des REIP-Indexes) zeigen abweichende Werte und Korrelationen innerhalb der Messung, aber auch in der Prognose zum darauffolgenden Messzeitpunkt. Beispielsweise stimmen in EC 37 die schleppernahen Sensoren nur mit r = 0,86 mit den Werten aller Sensoren überein. Zum Ende der Blüte in EC 69 ist die Korrelation noch geringer r = 0,81. Am geringsten ist sie in EC 49 (r = 0,62) unmittelbar nach Wirksamwerden der vorausgegangenen Düngergabe. Durch die höhere Auflösung können folglich Bestandsparameter genauer gemessen, Ertragspotenziale besser abgeschätzt und Management-maßnahmen sicherer abgeleitet werden.

Fields of Study & Subjects

Remote Sensing in Agriculture Smart Agriculture and AI Leaf Properties and Growth Measurement

Publication details

Journal / source
Gesellschaft für Informatik (GI)
Publication date
1 January 2026
Language
DE