МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Наблюдение атомов и молекул стало рутинной операцией в сканирующей туннельной микроскопии с момента ее изобретения в 1982 году. Атомно-силовая микроскопия также позволяет наблюдать с высоким разрешением атомную решетку кристаллических образцов. После некоторых усилий по минимизации силового воздействия и в атомно-силовой микроскопии удалось получить изображения одиночных атомов и точечных вакансий (отсутствие атома в кристаллической решетке). Очарование методов сканирующей зондовой микроскопии обусловлено возможностью получать изображения микро- и наномира с рекордным качеством и детализацией в обычных условиях. Возникший вопрос о предельных возможностях методов сканирующей зондовой микроскопии остается без четкого ответа. С одной стороны, он относится к метрологии, с другой – к глубинным фундаментальным вопросам современной физики.