DIN 50450-2:2026-03, Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie_- Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen_- Teil_2: Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in Stickstoff, Argon, Helium, Neon und Wasserstoff mittels einer galvanischen Messzelle
Abstract
DIN 50450-2 - 2026-03 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen - Teil 2: Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in Stickstoff, Argon, Helium, Neon und Wasserstoff mittels einer galvanischen Messzelle. Jetzt informieren!
Fields of Study & Subjects
Analytical Chemistry and Sensors
Advanced Materials and Semiconductor Technologies
Gas Sensing Nanomaterials and Sensors
Publication details
- Publication date
- 5 February 2026