基于π相移二值正交光栅的调制度测量轮廓术
Abstract
调制度测量轮廓术具有同轴垂直测量的特性，能够有效避免传统三角测量中常见的阴影与遮挡问题。基于此，提出一种基于π相移二值正交光栅的调制度测量轮廓术，并搭建了相应的测量系统。该系统采用高速相机和高速投影仪，并结合半透半反镜构建同轴光路结构。同时，在投影仪透镜前加装一个柱透镜，使竖直和水平方向的光栅像面沿深度方向分离，从而拓展了深度方向上的可测量范围。在采用两帧π相移光栅进行循环投影的测量过程中，通过对采集到的相邻两帧条纹图像应用傅里叶条纹分析方法，分别获取竖直与水平方向的调制度信息，进一步计算两者的调制度比值。基于事先建立的高度与调制度比之间的映射关系，即可成功恢复物体的高度信息。该方法仅需投影两帧二值化的π相移正交光栅即可完成单次测量，显著提高了测量效率，适用于动态过程中表面变化的快速三维测量。
Fields of Study & Subjects
Optical measurement and interference techniques
Surface Roughness and Optical Measurements
Image Processing Techniques and Applications
Publication details
- Journal / source
- Acta Optica Sinica
- Volume
- 46
- Issue
- 2
- Pages
- 0211001–0211001
- Publication date
- 1 January 2026
- Language
- EN