基于迭代合成和多尺度块对比度的偏光片外观缺陷检测方法
Abstract
针对偏光片细微外观缺陷在成像中对比度低、难以精准检测的问题，提出一种基于结构光照明的图像迭代合成方法。该方法采用二元线性条纹结构光照明，使同一缺陷可分别成像于亮、暗条纹区域。通过迭代合成这两类图像，有效增强缺陷区域的成像对比度。在检测算法方面，改进了多尺度块对比度方法，提出一种结合全局与局部信息的平均-局部对比度特征图提取方法。实验结果表明：所提方法对4种常见偏光片细微外观缺陷的成像对比度提升了5~10倍，最终实现了95.7%的检出率与6.5%的误报率，单次检测耗时仅为0.85 s。所提方法在关键性能指标上已基本满足工业现场在线检测的实际需求。
Fields of Study & Subjects
Industrial Vision Systems and Defect Detection
Optical measurement and interference techniques
Non-Destructive Testing Techniques
Publication details
- Journal / source
- Laser & Optoelectronics Progress
- Volume
- 63
- Issue
- 2
- Pages
- 0215007–0215007
- Publication date
- 1 January 2026
- Language
- EN