瓷绝缘子劣化发热特性与温差识别阈值研究
Abstract
针对红外检测技术在劣化绝缘子带电检测中存在的漏误检问题，提出一种基于射频识别测温技术的劣化瓷绝缘子带电检测方法。首先结合现场实验与有限元仿真分析了劣化位置和劣化阻值对瓷绝缘子串发热规律的影响，结果表明：瓷绝缘子温升与劣化位置和绝缘阻值显著相关，且劣化严重的绝缘子与正常绝缘子之间温差较小，识别难度较大。为解决这一问题，采用威布尔分布函数对不同环境温湿度下的零值绝缘子温差数据进行拟合，构建零值绝缘子数学模型，并用极大似然估计法确定模型参数。结合实际工况分析，确定零值绝缘子最佳温差识别阈值为-0.7 K，识别准确率达96.53%。提出了基于射频识别测温的劣化绝缘子带电巡检系统，为电力系统劣化瓷绝缘子带电识别提供了技术方案，具有工程应用价值。
Fields of Study & Subjects
High voltage insulation and dielectric phenomena
Thermography and Photoacoustic Techniques
Power Line Inspection Robots
Publication details
- Journal / source
- Laser & Optoelectronics Progress
- Volume
- 63
- Issue
- 1
- Pages
- 0112007–0112007
- Publication date
- 1 January 2026
- Language
- EN