Technical Report: Metrological Analysis of Conductive Materials and Dissipation Limits at the Nanoscale (6.25 nm). / Reporte Técnico: Análisis Metrológico de Materiales Conductores y Límites de Disipación en la Nanoescala (6.25 nm).

This technical report examines the physical limits of electronic and thermal transport in standard industrial materials (Cu, Si, GaN, Au) upon reaching the critical 6.25 nm threshold. Using solid-state physics models such as Mayadas-Shatzkes and Callaway's phonon confinement, it demonstrates the breakdown of Ohm's Law and the degradation of phase fidelity. The document proposes a new validation protocol for metrology laboratories based on phase autocorrelation as an alternative to classical thermal conductivity. Este informe técnico examina los límites físicos del transporte electrónico y térmico en materiales industriales estándar (Cu, Si, GaN, Au) al alcanzar el umbral crítico de 6.25 nm. A través de modelos de física de estado sólido como Mayadas-Shatzkes y el confinamiento fonónico de Callaway, se demuestra la ruptura de la ley de Ohm y la degradación de la fidelidad de fase. El documento propone un nuevo protocolo de validación para laboratorios de metrología basado en la autocorrelación de fase como alternativa a la conductividad térmica clásica.