Análisis de Límites Fundamentales en la Detección de Huellas de Radiación en la Simulación Ondulatoria Binaria

(EN): In this technical note we present corrections and refinements to Papers 2-5 ofthe Binary Wave Simulation (BWS) series. The modifications include: (i) generalizationof the emergent metric beyond the conformally flat form in Paper 2; (ii)inclusion of a clarifying note on the origin of the number of screens D = L/a inPaper 3; (iii) justification of the chirality scale Ls = aD1/3 and a comparative tablefor the selection of N = 5 in Paper 4; (iv) updating of the predictions table inPaper 5 to include the directional ISW detection. These corrections do not alterthe main conclusions of the original papers, but rather reinforce and clarify them.(ES): En esta nota técnica presentamos correcciones y refinamientos a los Papers 2-5 de la serie sobre la Simulacón Ondulatoria Binaria (SOB). Las modificacionesincluyen: (i) la generalización de la m´etrica emergente más allá de la forma conformeplana en el Paper 2; (ii) la inclusión de una nota aclaratoria sobre el origen delnúmero de pantallas D = L/a en el Paper 3; (iii) la justificación de la escala dequiralidad Ls = aD1/3 y una tabla comparativa para la selección de N = 5 en elPaper 4; (iv) la actualización de la tabla de predicciones del Paper 5 para incluir ladetección ISW direccional. Estas correcciones no alteran las conclusiones principalesde los papers originales, sino que las refuerzan y clarifican.