Значения рентгеновской и пикнометрической плотностей как исходных соединений, так и твердых растворов системы β-TlInS2–AgInS2
Fields of Study & Subjects
Crystal Structures and Properties
Metallurgical and Alloy Processes
Chalcogenide Semiconductor Thin Films
Publication details
- Journal / source
- Cifra LLC Journals
- Publication date
- 17 February 2026
- Language
- RU
- Document type
- Dataset