ผลของโหมดการทำงานและความตางศกยไฟฟาตอคณภาพของภาพถายและการวเคราะหธาตในวสดนาโนซงคออกไซด

งานวิจัยนี้มุ่งศึกษาการเลือกโหมดการทำงานและความต่างศักย์ไฟฟ้าที่เหมาะสมสำหรับการวิเคราะห์วัสดุนาโนซิงค์ออกไซด์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดชนิดฟิลด์อิมิสชัน (field emission scanning electron microscope: FESEM) ร่วมกับการวิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงานหรือการวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุด้วยการกระจายพลังงานรังสีเอกซ์ (energy dispersive X-ray spectroscopy: EDS) โดยประเมินผลของโหมดการทำงานและความต่างศักย์ไฟฟ้าต่อคุณภาพของภาพถ่ายตัวอย่างวัสดุนาโนซิงค์ออกไซด์และผลการวิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน ผลการศึกษาพบว่าโหมดการทำงาน GB-HIGH ที่ความต่างศักย์ไฟฟ้า 2 กิโลโวลต์ ให้ภาพที่มีความคมชัดและสามารถแสดงรายละเอียดพื้นผิวของวัสดุได้ดีที่สุด เมื่อเปรียบเทียบกับโหมด SEM และความต่างศักย์ไฟฟ้าในระดับอื่น ๆ นอกจากนี้ผลการวิเคราะห์ธาตุด้วยเทคนิค EDS แสดงให้เห็นการกระจายตัวของธาตุสังกะสี (Zn) และออกซิเจน (O) อย่างสม่ำเสมอบนพื้นผิววัสดุ โดยการเปรียบเทียบการวิเคราะห์ปริมาณธาตุด้วยวิธีการวิเคราะห์ปริมาณธาตุแบบอะนาไลเซอร์ (analyzer method) และวิธีการวิเคราะห์ธาตุแบบจุดและการระบุชนิดธาตุ (point & ID method) พบว่าปริมาณธาตุสังกะสีและออกซิเจนที่ได้จากทั้งสองวิธีมีค่าใกล้เคียงกัน ซึ่งสอดคล้องกับคุณสมบัติของวัสดุนาโนซิงค์ออกไซด์ ผลการศึกษานี้ชี้ให้เห็นถึงความสำคัญของการเลือกโหมดการทำงานและความต่างศักย์ไฟฟ้าที่เหมาะสมในการเพิ่มคุณภาพของภาพและความถูกต้องของการวิเคราะห์ธาตุในงานวิจัยด้านวัสดุนาโน และสามารถนำไปประยุกต์ใช้ในงานวิจัยและพัฒนาวัสดุในอนาคตได้